Комментарии — С 22 по 25 мая на базе НовГУ пройдет Третий международный семинар «Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия)».

Пока нет комментариев. Вы можете оставить первый.

Добавить комментарий

Авторизация:
Логин:
Пароль: